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AI-based OEE Analysis

MPDV Mikrolab GmbH

OEE-Kennzahl analysieren mit Künstlicher Intelligenz (KI)

Die OEE-Kennzahl, also die Overall Equipment Effectiveness oder auch Gesamtanlageneffektivität (GAE), ist eine der wichtigsten Indikatoren für Produktivität in der Smart Factory. Mit ihren drei Faktoren Verfügbarkeit, Leistung und Qualität, deckt sie ein breites Feld ab. Die Kennzahl ist eine gesamtheitliche Betrachtung, die zum Beispiel sicherstellt, dass eine höhere Leistung nicht auf Kosten der Maschine oder der Qualität erreicht wird. Insbesondere Einflussfaktoren wie Maschine, Werkzeug, Material und produzierter Artikel wirken sich einzeln und in Kombinationen auf den OEE-Index aus.

Mit der mApp AI-based OEE Analysis nutzen Sie innovative KI-Algorithmen, um zu erfahren, welche Zusammenhänge bestehen und an welchen Stellen Sie die Verluste Ihrer Maschinen reduzieren und die Effektivität der Produktion steigern können. Grafische Darstellungen visualisieren Ihnen den zeitlichen Verlauf der OEE-Kennzahl für bestimmte Kombinationen von Fertigungsressourcen und erleichtern die Analyse der Wirksamkeit von Maßnahmen. Das bedeutet, dass Sie in Zukunft auf Basis verlässlicher Daten wissen, wie Sie mit Ihren Anlagen noch effizienter produzieren können.

Ihr Nutzen

Auf Basis der KI-unterstützten Analyse der erfassten Produktionsdaten finden Sie heraus, welche Umstände zu einer besseren oder schlechteren OEE-Kennzahl führen. So können Sie Maßnahmen ergreifen, um noch effizienter zu produzieren.

Technische Informationen

Die mApp mApp AI-based OEE Analysis ist sowohl Teil der Kategorie Resource Management von HYDRA X als auch Teil der AI Suite.

Als Datenbasis nutzt die mApp die Virtual Production Reality (ViPR) der Manufacturing Integration Platform (MIP) von MPDV.

AI-based OEE Analysis im MIP-Ökosystem

Kennzahlen wie der OEE-Index und deren Berechnung sind wichtig, um die Produktivität von Maschinen im Blick zu behalten. Dazu bietet MPDV auch folgende mApps an:

 

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